特許
J-GLOBAL ID:200903032209781977

自動変角3次元分光光度計

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中島 淳 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-123603
公開番号(公開出願番号):特開平5-322655
出願日: 1992年05月15日
公開日(公表日): 1993年12月07日
要約:
【要約】【目的】 シーン光沢による影響に拘わらず迅速かつ自動的に測定対象の物体を3次元的に分光測色する。【構成】 光源14から射出された光が試料F及び参照白色板Wに照射される。この各反射光を分光器60が光の波長毎に光量を計測する。参照白色板Wは試料Fと所定角度を成している。この試料回転部30を軸37に回転、試料Fを法線を軸に回転、光源部12を軸37に回転、あおりプレート34を軸31にあおることによって、3次元分光光度計10の入射角、受光角、方位角、試料回転角を所定の角度条件に変更する。この角度条件のときの分光反射率を計測する。試料Fの分光反射率は、白色塗板Wの計測値によって求めた基準の照度特性及び受光特性で計測した分光立体角反射率に換算するための補正値で補正される。
請求項(抜粋):
試料と基準板とが所定角度を成すように配設される載置手段と、前記試料および基準板へ同一光源からの光を照射する照射手段と、前記試料および基準板からの各光量を、所定波長または所定波長帯毎に計測する計測手段と、前記試料へ照射される光の入射角度、前記計測手段が受光する試料からの光の受光角度、前記試料の法線を軸として回転される前記試料の回転角度、前記試料の法線と前記試料への入射光軸とを含む入射平面に対して前記試料の法線と前記計測手段への検出光軸とを含む検出平面が成す方位角度、の各角度を変更する角度変更手段と、拡散反射面を有する板を前記試料配設位置に配設し、正反射領域以外のときには該板の基準角度条件における基準計測値と、前記基準角度条件と異なる所定角度条件における該板の計測値と、に基づいて補正値を求め、かつ、正反射領域のときには前記所定角度条件における該板の該正反射領域近傍の計測値または該正反射領域近傍の補正値に基づいて補間によって正反射領域の補正値を求める補正値演算手段と、前記計測手段によって計測された前記試料、前記基準板の計測値、および前記補正値演算手段によって求めた補正値に基づいて試料の分光立体角反射率を求める反射率演算手段と、を備えたことを特徴とする自動変角3次元分光光度計。
IPC (2件):
G01J 3/50 ,  G01J 3/42

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