特許
J-GLOBAL ID：200903032306661080
透過X線による断層像検出方法とその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋本 正実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-053488
公開番号（公開出願番号）：特開平6-265487
出願日： 1993年03月15日
公開日（公表日）： 1994年09月22日
要約：
【要約】【目的】 コントラストを低下させることなく、撮像対象内の任意の高さでの鮮明なX線断層像を検出すること。【構成】 X線発生部1から撮像対象3に照射角度が変えられた状態でX線2が照射された場合、対象3からの透過X線像は検出部4で照射角度対応に検出されるが、これら透過X線像では、部材5による像が相異なる位置に存在したものとして得られるので、画像処理によりこれら透過X線画像間の対応する部分各々について、透過X線量が多い方の画像値を積極的に選択した上、合成するようにすれば、部材5による像が含まれない透過X線画像が得られるというものである。
請求項（抜粋）：
撮像対象内の同一焦点面について複数枚の透過X線画像を得るべく、上記撮像対象に様々な方向からX線を照射する一方、該撮像対象からの透過X線像をX線照射方向対応に検出した上、該複数の透過X線画像から、同一対応点各々について、最大透過X線量に係る画像値が選択・合成されることで、上記焦点面での断層像が1枚の透過X線画像として検出されるようにした、透過X線による断層像検出方法。
IPC (2件)：
G01N 23/04
, A61B 6/02 301
