特許

J-GLOBAL ID：200903032350886790

全反射減衰を利用した測定方法および測定装置

発明者： 森 信文
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-073608
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277389
出願日： 2001年03月15日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：

【要約】【課題】 表面プラズモン共鳴等による全反射減衰を利用した測定装置において、試料液を測定ユニットに供給時に溶媒の屈折率変化により生じるバルク効果等の影響を低減し、センシング物質と試料液の相互作用の測定精度を向上する。【解決手段】 試料液15をセンシング物質14が固定された測定ユニット10に滴下供給し、光ビーム30を誘電体ブロック11と金属膜12との界面12aで全反射条件が得られるように入射させ、界面12aにおいて全反射した光ビーム30を光センサ40で検出し、光ビーム30内の全反射減衰角を検出する。まず、試料液供給直後の検出値を補正値として記憶し、その後所定時間経過後に検出した検出値から補正値を減算し、その補正された検出値に基づいて全反射減衰角の経時変化を求め、センシング物質と試料液との相互作用状態を測定する。検出値から、バルク効果等のノイズを主に反映している補正値を減算したため測定精度が向上する。

請求項（抜粋）：

光ビームを発生させる光源と、前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された薄膜層、この薄膜層の表面上に配されて、試料液と相互作用を生じるセンシング物質、およびこのセンシング物質の表面上に前記試料液を保持する試料液保持機構を備えてなる複数個の測定ユニットと、前記光ビームを前記複数個の測定ユニットのうち1つの測定ユニットの誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の入射角で入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を検出する光センサとからなる光検出手段と、前記複数個の測定ユニットを支持する支持体と、前記複数の測定ユニットの各誘電体ブロックに関して順次前記光ビームが前記種々の入射角で入射し、前記光センサによる検出が行えるように、前記支持体を前記光検出手段に対して相対的に移動させて、各測定ユニットを前記光検出手段に対して所定位置に配置する移動手段とを備えた全反射減衰を利用した測定装置において、前記各測定ユニットの試料液保持機構への試料液の供給直後および供給後所定時間経過時に、その測定ユニットが前記光検出手段に対して前記所定位置に配置されるように、前記支持体を前記光検出手段に対して相対的に移動させ、前記各測定ユニット毎に、前記試料液保持機構への試料液の供給直後に前記光検出手段により検出された検出結果を記憶し、該記憶した検出結果に基づいて、前記所定時間経過後に検出された検出結果を補正し、該補正された検出結果に基づいて全反射減衰の状態の経時変化を測定することを特徴とする全反射減衰を利用した測定方法。

IPC (4件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/03 ,  G01N 35/04 ,  G01N 35/10

FI (4件)：

G01N 21/27 C ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 35/04 A ,  G01N 35/06 A

Fターム (30件)：

2G057AB04 ,  2G057AB09 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BC07 ,  2G057DA03 ,  2G057DB01 ,  2G057HA04 ,  2G058AA02 ,  2G058CA04 ,  2G058CB04 ,  2G058EA02 ,  2G058EA11 ,  2G058ED03 ,  2G058GA02 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF03 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059NN10 ,  2G059PP01