特許
J-GLOBAL ID：200903032463270982
非接触式歪検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-289624
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108426
出願日： 1999年10月12日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
要約：
【要約】【課題】被検査物を非接触で、光学的に歪検査することにより,不良品が流れても詰まることはなく,ラインを停止させることなく,連続的に高速度で処理でき,生産性を向上できる非接触式歪検査装置を提供することにある。【解決手段】ワークAを滑走させる傾斜を有した滑走面13と,滑走面13を挟んで一側に発光素子14,他側に前記発光素子からの光を受光する受光素子14を備え,滑走面13を通過するワークAの平面度を光学的に非接触で検出する歪センサ16と,滑走面13に設けられ,歪センサ16によってワークAの平面度が設定範囲内と判定した場合にはワークAを通過させ,設定範囲外と判定した場合には滑走面13から排除する排除機構24とを具備したことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
被検査物を滑走させる傾斜を有した滑走面と,前記滑走面を挟んで一側に発光素子,他側に前記発光素子からの光を受光する受光素子を備え,前記滑走面を通過する被検査物の平面度を光学的に非接触で検出する歪センサと,前記滑走面に設けられ,前記歪センサによって被検査物の平面度が設定範囲内と判定した場合には被検査物を通過させ,設定範囲外と判定した場合には前記滑走面から排除する排除機構と,を具備したことを特徴とする非接触式歪検査装置。
Fターム (17件)：
2F065AA47
, 2F065BB03
, 2F065BB15
, 2F065CC00
, 2F065FF02
, 2F065GG14
, 2F065GG16
, 2F065HH15
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065LL03
, 2F065NN20
, 2F065PP11
, 2F065QQ25
, 2F065RR06
, 2F065RR08
, 2F065TT03
