特許
J-GLOBAL ID：200903032477708905
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-281702
公開番号（公開出願番号）：特開平5-118848
出願日： 1991年10月28日
公開日（公表日）： 1993年05月14日
要約：
【要約】【目的】この発明の測距装置にあっては、アクティブ方式に於いて、AF光学系の基準面とフィルム面との差により生じる近距離側での誤差を演算によらずに補正するために、PSDの抵抗率を近距離にある被写体からの反射光を受光する側ほど高くして構成することを特徴とする。【構成】この発明の測距装置は、IRED1から投光レンズ2を介して投光された光束が被写体にて反射され、反射光が受光レンズ4を介してPSD19で受光される。このPSD19は、近距離にある被写体からの反射光を受光する側ほど、その抵抗率を高くして構成されている。このPSD19の出力に基いて、AF回路20、1/l演算回路21によって被写体までの距離が演算される。
請求項（抜粋）：
被写体に光束を投光する投光手段と、上記光束の上記被写体からの反射光を受光レンズを介して受光する光位置検出素子と、この光位置検出素子の出力に基いて上記被写体までの距離を演算する距離演算手段とを具備し、上記光位置検出素子は、近距離にある被写体からの反射光を受光する側ほど、抵抗率を高くしたことを特徴とする測距装置。
IPC (5件)：
G01C 3/06
, G01B 11/00
, G01S 17/08
, G02B 7/32
, H01L 31/16
