特許
J-GLOBAL ID:200903032496210519
ゴムの架橋度評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西川 惠清 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-260947
公開番号(公開出願番号):特開2002-071595
出願日: 2000年08月30日
公開日(公表日): 2002年03月08日
要約:
【要約】【課題】 少量の試料でも、短時間で、正確にゴムの架橋度を評価することができるゴムの架橋度評価方法を提供する。【解決手段】 パルス法NMRでゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたスピン-スピン緩和時間T2をもとにして、次の式で定義される平均緩和時間MT2を算出する。MT2=Σ(T2(i)×V(i))(T2(i):i成分のスピン-スピン緩和時間T2、V(i):i成分の組成)そしてこの平均緩和時間MT2からゴムの架橋度を評価する。膨潤試験や架橋挙動試験などでゴムの架橋度を評価する場合のような、多量の試料や長時間の測定時間を要することなく、少量もしくは小さい試料でも、短時間でゴムの架橋度を評価することが可能になるものである。
請求項(抜粋):
パルス法NMRでゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたスピン-スピン緩和時間T2をもとにして、次の式で定義される平均緩和時間MT2を算出し、MT2=Σ(T2(i)×V(i))(T2(i):i成分のスピン-スピン緩和時間T2、V(i):i成分の組成)この平均緩和時間MT2からゴムの架橋度を評価することを特徴とするゴムの架橋度評価方法。
FI (3件):
G01N 24/08 510 P
, G01N 24/08 510 L
, G01N 24/08 510 S
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