特許

J-GLOBAL ID：200903032543519973

点検周期の決定方法及び装置

発明者： 滝川 憲 ,  澤山 信輝 ,  北 良平
出願人/特許権者： 横河エンジニアリングサービス株式会社
代理人 (1件)： 小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-015270
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225777
出願日： 1994年02月09日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：

【要約】【目的】 種々の電子式機器について、保守点検周期を左右する最も重要な環境因子を測定して、それらの測定結果から最適な保守点検周期を決定する方法及び装置を実現することを目的とする。【構成】 電子機器の所定の部位又は設置環境の温度、湿度、塵埃及び腐食膜厚の少なくとも2以上の測定データを収集して、それぞれその測定値の大小に従たがって一定の点数を与えた因子別評価点を求め、測定した環境因子が通年で与える影響を数値化した加速係数を積算して、因子別合計評価点を求める。次に前記の因子別合計評価点を合計して総合評価点を求める。更に電子機器の機種別に、予め当該機器を試験し、過去の保守点検データも考慮して、総合評価点に対応する点検周期を予め定めておいて、前段階で求めた総合評価点をこれと照合して対応する点検周期を決定する、または保守点検の回数を低減できるよう設置環境の改善策を決定する等を特徴とする方法及び装置。

請求項（抜粋）：

下記の各段階の処理を実行することを特徴とする電子式機器の点検周期を決定する方法。段階1 電子機器の所定の部位又は設置環境の温度、湿度、塵埃及び腐食膜厚のうち少なくとも2以上の測定データを収集し、段階2 電子機器の機種別、測定因子別に、測定範囲を区分して大小にしたがって定めた点数を照合して、段階1で収集した各測定データについて因子別評価点を求め、段階3 段階1で収集した各測定データについて、電子機器の機種別、測定因子別に測定因子が通年で与える影響を数値化した加速係数を求め、段階2で求めた因子別評価点に積算して、因子別合計評価点を求め、段階4 段階3で得られた因子別合計評価点を合計して総合評価点を求め、段階5 段階4で求めた総合評価点と、電子機器の機種別に予め当該機器を試験し、保守点検データも考慮して定めておいた、総合評価点に対応する点検周期とを照合することにより電子式機器の点検周期を決定する。