特許

J-GLOBAL ID：200903032676333740

ソフトウェアシステムのテスト計画作成支援方法およびテスト計画作成支援プログラム

発明者： 山本 徹也 ,  岡安 二郎 ,  平山 雅之
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-053210
公開番号（公開出願番号）：特開2003-256206
出願日： 2002年02月28日
公開日（公表日）： 2003年09月10日
要約：

【要約】【課題】 ソフトウェアシステムのテストにどれだけのリソースをどのように割り当てるべきかを、テスト計画として決定することを支援する方法およびプログラムの提供。【解決手段】 ソフトウェアシステムのプログラムモジュールごとの品質情報を設定する工程24と、前記品質情報から前記プログラムモジュールの不具合検出工数を予測する工程26と、前記モジュールと前記ソフトウェアシステムの仕様書から抽出される仕様項目との対応関係を表すモジュール・仕様項目対応関係情報を作成する工程22と、前記不具合検出工数と前記モジュール・仕様項目対応関係情報とから仕様項目不具合検出工数を予測する工程28と、前記仕様項目不具合検出工数に基づいて、前記ソフトウェアシステムのテストに利用可能なテストリソースを配分するテスト計画を作成する工程30とを備えたことを特徴とするテスト計画作成支援方法およびプログラム。

請求項（抜粋）：

ソフトウェアシステムのプログラムモジュールごとの品質情報を設定するモジュール品質情報設定工程と、前記品質情報から前記プログラムモジュールの不具合検出工数を予測するモジュール不具合検出工数予測工程と、前記モジュールと前記ソフトウェアシステムの仕様書から抽出される仕様項目との対応関係を表すモジュール・仕様項目対応関係情報を設定するモジュール・仕様項目対応関係設定工程と、前記不具合検出工数と前記モジュール・仕様項目対応関係情報とから仕様項目不具合検出工数を予測する仕様項目不具合検出工数予測工程と、前記仕様項目不具合検出工数に基づいて、前記ソフトウェアシステムのテストに利用可能なテストリソースを配分するテスト計画を作成するテスト計画作成工程とを備えたことを特徴とするテスト計画作成支援方法。

IPC (2件)：

G06F 9/44 ,  G06F 11/28 340

FI (2件)：

G06F 11/28 340 A ,  G06F 9/06 620 J

Fターム (5件)：

5B042HH17 ,  5B042HH19 ,  5B076EC08 ,  5B076EC09 ,  5B076EC10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• ソフトウェアシステムのテスト優先度導出支援方法、テストケース設計支援方法、およびその支援プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-290380   出願人：株式会社東芝