特許

J-GLOBAL ID：200903032691217404

光ファイバを用いた歪み温度計測装置

発明者： 石岡 昌人
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (6件)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  風間 鉄也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-266846
公開番号（公開出願番号）：特開2004-101472
出願日： 2002年09月12日
公開日（公表日）： 2004年04月02日
要約：

【課題】光ファイバ ゙を用いた歪み温度計測装置の空間分解能の向上を図る。【解決手段】本発明の光ファイバを用いた歪み温度計測装置によれば、センシング区間16に配置される光ファイバ18と、雑音変調信号を同期信号と共に出力する雑音変調信号源10と、雑音変調信号に基づき出力光を出力する光源11と、出力光をポンプ光Eとプローブ光Fとに分配する光分配器12と、ポンプ光Eを光ファイバ18に導くと共にブリルアン散乱光Gを光ファイバ18から導く光サーキュレータ14と、プローブ光Fの変調処理を行う光変調器22と、プローブ光Fの遅延処理を行う光遅延部24と、プローブ光Fとブリルアン散乱光Gとを合波する光合波器26と、合波光からブリルアン散乱光Gを抽出する波長フィルタ29と、このブリルアン散乱光Gを電気信号に変換する受光器30と、この電気信号に基づいてセンシング区間16の歪み量及び温度変化の測定情報を求める波形測定器31とを備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被測定物に対して配置されるセンシング用光ファイバと、 雑音変調信号を同期信号とともに出力する雑音変調信号出力部と、 前記雑音変調信号出力部から出力された雑音変調信号に基づいて出力光を出力する光源と、 前記光源からの出力光をポンプ光とプローブ光とに分配する光分配器と、 前記光分配器によって分配されたポンプ光を、前記センシング用光ファイバに導くと共に、前記ポンプ光が導かれたセンシング用光ファイバ内で発生した歪みおよび温度に関する情報を有するブリルアン散乱光を、このセンシング用光ファイバから導く導光手段と、 前記光分配器によって分配されたプローブ光に対して、ブリルアンシフト周波数相当の変調信号を印加することによって、周波数変調処理を施す周波数変調手段と、 前記周波数変調手段によって周波数変調されたプローブ光と、前記ポンプ光とが予め定めた時間位相関係になるように、このプローブ光の遅延処理を行う光遅延手段と、 前記光遅延手段によって遅延処理されたプローブ光と、前記導光手段によって導かれたブリルアン散乱光とを合波する光合波手段と、 前記光合波手段によって合波されたブローブ光とブリルアン散乱光からなる合波光から、ブリルアン散乱光のみを抽出するフィルタ手段と、 前記フィルタ手段によって抽出されたブリルアン散乱光を電気信号に変換する変換手段と、 前記変換手段によって変換された電気信号に基づいて、前記被測定物の歪み量および温度変化に関する測定情報を求め、この測定情報を、前記雑音変調信号出力部から出力された同期信号に同期させて表示する表示手段と を備えた光ファイバを用いた歪み温度計測装置。

IPC (3件)：

G01D5/26 ,  G01B11/16 ,  G01K11/12

FI (3件)：

G01D5/26 D ,  G01B11/16 Z ,  G01K11/12 F

Fターム (22件)：

2F056VF02 ,  2F056VF12 ,  2F056VF13 ,  2F056VF17 ,  2F056VF20 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065CC23 ,  2F065DD03 ,  2F065FF49 ,  2F065GG06 ,  2F065JJ15 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ28 ,  2F103BA37 ,  2F103CA07 ,  2F103EB02 ,  2F103EC09 ,  2F103EC16