特許
J-GLOBAL ID:200903032734117654

材料の複素透過率の局部測定のための装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山本 恵一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-283433
公開番号(公開出願番号):特開2002-189043
出願日: 2001年09月18日
公開日(公表日): 2002年07月05日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 材料の複素透過率の非破壊判定のためのプローブを提供する。【解決手段】 プローブ10は調査中の材料内で明確に定められたサンプル11の大きさ内にプローブの領域を閉じ込めることができる平衡2導体伝送線路構造に基づいている。2導体伝送線路12のプローブ端15は調査中の前記サンプルの近傍に置かれる。前記構造は誘電体の間隔により分離されている2つの導体を含んでいる。前記サンプルの特性は前記2つの導体間のキャパシタンスと散逸の測定又は前記プローブ端から反射されるマイクロ波信号の複素反射係数の測定のいずれかにより判定される。前記反射係数は前記プローブ端と反対の端にある終端プレート17に結合された前記2導体伝送線路から成る共振器を形成することにより最良に測定できる。
請求項(抜粋):
サンプルの複素透過率の局部測定のためのプローブであって、前記プローブは、少なくとも一組の間隔をあけて伸長し、誘電体の媒体により間隔が作られている平衡2導体伝送線路を有し、前記伝送線路は前記サンプルのかなり近傍に置かれているプローブ端を有し、(a)前記伝送線路の前記導体間で測定したキャパシタンスと消費;(b)前記伝送線路の前記プローブ端におけるマイクロ波信号の複素反射係数;のいずれか一つに関する前記サンプルの結果を測定する測定手段を備えていることを特徴とするプローブ。
IPC (3件):
G01R 27/06 ,  G01N 13/10 ,  G01N 22/00
FI (4件):
G01R 27/06 ,  G01N 13/10 H ,  G01N 22/00 S ,  G01N 22/00 T
Fターム (6件):
2G028AA01 ,  2G028BB20 ,  2G028CG15 ,  2G028DH15 ,  2G028EJ01 ,  2G028HM10
引用文献:
審査官引用 (1件)
  • Snow Fork for Field Determination of the Density and Wetness Profiles of a Snow Pack

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