特許
J-GLOBAL ID：200903032798471168
消光比測定方法および消光比測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山田 正紀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-338374
公開番号（公開出願番号）：特開平9-178608
出願日： 1995年12月26日
公開日（公表日）： 1997年07月11日
要約：
【要約】【課題】本発明は、直線偏光子の消光比を測定する消光比測定方法および消光比測定装置に関し、直線偏光子の消光比を高精度に測定する。【解決手段】光ヘテロダイン光学系を用い、被測定体である直線偏光子7を光路1の光軸を中心に回転させ、光検出器10で検出されるビート信号の、最大値と最小値を検出し、それらの比として求められる消光比を求める。
請求項（抜粋）：
光源から射出された光を、該光が2つの光路を辿るように二分し、これら二分された2つの光路のうちの少なくとも一方の光路を辿る光の周波数をシフトした後これら2つの光路を辿った光を重畳して光検出器に導く光ヘテロダイン検出装置を用意し、前記2つの光路のうちのいずれか一方の光路上に被測定体を配置し、該被測定体を、該一方の光路を軸として回転させながら、前記光検出器で検出されるビート信号の、該被測定体が回転する間の最大値と最小値を検出することにより、これら最大値と最小値との比である消光比を求めることを特徴とする消光比測定方法。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G01N 21/21
, G01N 21/27
G01M 11/00 T
, G01N 21/21 Z
, G01N 21/27 H
