特許

J-GLOBAL ID：200903032807908710

液晶表示装置の検査装置

発明者： 河井 延良
出願人/特許権者： 河井 延良
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-146948
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318880
出願日： 1994年05月24日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：

【要約】【目的】 液晶表示装置の表示部の状態を調べるために、一次元カラー.イメージ.センサであるCCDで走査し、このCCDセンサをメカニズム(3)で一方の端から他方の端へ移動して液晶表示装置(2)の表示部の状態を取り込み、電気信号に変換して取り込んだ内容をより明確化させるために各種の信号処理を行って、必要な信号を出力したリ、データを保存、加工することが別のコピュータで制御出来る液晶表示装置である。【構成】 液晶表示装置(2)の表示部を調べるためにCCDセンサ及び光源の入っているハウジング(1)を移動させるメカニズム(3)とセンサで取り込んだ信号を処理する電子回路の入った箱(4)とこれらを制御するコンピュータ(5)で、この付属品であるキーボード(7)やその他のブロックを結合している電線(6)からなる検査装置である。

請求項（抜粋）：

(イ)液晶表示部の状態を一次元のCCDラインセンサで取り込み、その電気信号をデシタル信号処理を行って検査をする検査装置である。(ロ)CCDラインセンサはこのセンサの長さ方向に対して直角に移動しつつ液晶表示部の状態を取り込み、信号処理を行って検査をする検査装置である。(ハ)液晶表面の状態を取り込む方法に於てR(赤)画素、G(緑)画素、B(青)画素、それぞれ3系統独立に信号処理を、行っている検査装置である。(ニ)デジタル信号処理において、シェーデング補正、γ(ガンマ補正)、MTF補正を行っている検査装置である。

IPC (6件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00 ,  G01R 31/00 ,  H04N 5/16 ,  H04N 5/202 ,  H04N 7/18