特許
J-GLOBAL ID：200903032841763224
粒子検出器及び粒子分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-135053
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318522
出願日： 1996年05月29日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：
【要約】【課題】 試料を1回だけ希釈して測定用試料を作製すれば複数種類の粒子測定が可能になる粒子検出器及び粒子分析装置を提供する。【解決手段】 粒子検出器Pはフローセル50と電極1・20とを備えている。フローセル50は、第1室51と、細孔53により第1室51に連通する第2室52とを有している。第1室51には下側の電極1を兼ねる試料吐出用ノズル1の上端が配されている。ノズル1は、制御手段の指示に基づいてピストンヘッド19により駆動され、第1室51において軸方向へ上下移動できる。第1室51のテーパ部分の周囲にはシール部材16が設けられている。シール部材16は、ノズル1が移動したときにそのテーパ部28と密に接して、第1室51のテーパ部分をシールする。
請求項（抜粋）：
細孔によって連通する2つの室を有し、これらのうちの一方の室に粒子含有試料吐出用ノズル及びシース液流入部が設けられ、他方の室に液排出部が設けられたフローセルと、このフローセルの細孔を前記試料が通過する際にその試料中の粒子を検出するための粒子検出手段と、ノズルをその軸方向へ往復移動させるためのノズル移動手段とを備えてなる粒子検出器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/12 A
, G01N 33/49 F
