特許

J-GLOBAL ID：200903032842951458

発光分光分析方法

発明者： 石井 一也 ,  松本 義朗
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 井内 龍二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-160485
公開番号（公開出願番号）：特開平9-015157
出願日： 1995年06月27日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【構成】 C193.0nm及びC165.8nmの波長の分析線のスペクトル強度を放電パルスごとに測定し、このスペクトル強度分布の相関関係を原点を通る回帰直線IC193.0nm 及び原点を通らない回帰直線I'C193.0nmとして求め、回帰直線I'C193.0nmの傾きa’と回帰直線IC193.0nm の傾きaとの比kが所定値0.7 より小さいかまたは大きいかにより、C165.8nmの分析線またはC193.0nmの分析線に基づいて分析元素量を決定する発光分光分析方法。【効果】 共存元素のスペクトル線の重なりや分析試料の表面性状等の影響が多いときは、これらの影響を受け難いC165.8nmの分析線を自動的に選択することができ、影響が少ないときは、感度が高いC193.0nmの分析線を自動的に選択することができる。この結果、分析試料中のC元素を約50ppm から約200ppmまでの広い濃度範囲にわたって常時精度よく、迅速に測定することができる。

請求項（抜粋）：

発光スタンドに載置された分析試料と該分析試料に対向配置された電極との間で放電させ、発生したスペクトルを分光する発光分光分析方法において、長短2種類の波長の分析線のスペクトル強度を放電パルスごとに測定し、該スペクトル強度分布の相関関係を原点を通る回帰直線及び原点を通らない回帰直線として求め、該原点を通らない回帰直線の傾きと前記原点を通る回帰直線の傾きとの比が、所定値より小さいときは前記2種類の波長の分析線のうちの感度が低い方の分析線に基づいて、前記傾きの比が前記所定値より大きいときは前記2種類の波長の分析線のうちの感度が高い方の分析線に基づいて分析元素量を決定することを特徴とする発光分光分析方法。