特許
J-GLOBAL ID：200903032856479751
面歪測定解析システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
下田 容一郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-137500
公開番号（公開出願番号）：特開平6-347254
出願日： 1993年06月08日
公開日（公表日）： 1994年12月20日
要約：
【要約】【目的】 測定対象の走査から最大面歪量の解析までを自動的に処理することのよって、面歪量の精度の良い解析及び解析時間の大幅な短縮を図ることが出来る面歪測定解析システムを提供しようとするもの。【構成】 アウタパネル3の外観面品質の良否を判定するための面歪測定解析システムにおいて、先ず2次元形状測定機1の距離検出器4と位置検出器5によって得られたアウタパネル3の各測定点における位置データを、ノート型パーソナルコンピュータ2に記憶する。次に、位置データからアウタパネル3の断面形状を表す曲線をコンピュータ2で演算すると共に、表示部8に表示する。更に、前記曲線の前記各測定点における2次微係数を算出し、2次微係数の最大値と最小値を表示部8に表示し、その差からアウタパネル3の面品質の良否を判定するようにする。
請求項（抜粋）：
パネルの外観面品質の良否を判定するための面歪測定解析システムにおいて、形状測定機によって得られた前記パネルの各測定点における位置データをコンピュータに記憶し、この位置データから前記パネルの断面形状を表す曲線を前記コンピュータで演算すると共に、前記曲線の前記各測定点における2次微係数を算出し、この2次微係数の最大値と最小値を表示し、その差から前記パネルの面品質の良否を判定することを特徴とする面歪測定解析システム。
IPC (2件)：
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