特許
J-GLOBAL ID：200903032868236625
1画面1走査型特徴量計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-158945
公開番号（公開出願番号）：特開平5-012444
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1993年01月22日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 1画面1走査で正確に特徴量を計測でき、回路構成も簡略化する。【構成】 ラスタ走査で入力されるビデオ信号をA/D変換して2値化画素とする手段、ディレイを用いて走査している画素とこの画素の左,上,左上という2×2の4画素を取得する手段、この4画素より表1のラベル発行規則に基づいてラベル・フラグを発行する手段、このラベル・フラグにより同一図形に同一ラベルを発行する手段、同一ラベルを持つ図形の特徴量を逐次積算していく手段、ディレイを用いて上及び左の画素に付けられたラベルを保持しておく手段を備え、表1のラベル発行規則に基づいて付与されたラベル・フラグを基にして、ラベルと特徴量を管理することにより、走査中に何回、図形の結合が起こっても、一定回数の処理で正確に特徴量を計測できるようにしたことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
ラスタ走査で入力されるビデオ信号をA/D変換して2値化画素とする手段と、画素ディレイやフィ-ルドディレイを用いて走査している画素とこの画素の左,上,左上という2×2の4画素を取得する手段と、この4画素より下記表1のラベル発行規則に基づいてラベル・フラグを発行する手段と、このラベル・フラグにより同一図形に同一ラベルを発行する手段と、同一ラベルを持つ図形の特徴量を逐次積算していく手段と、ディレイを用いて上および左の画素に付けられたラベルを保持しておく手段とを備えた構成とし、前記表1のラベル発行規則に基づいて付与されたラベル・フラグを基にして、ラベルと特徴量を管理することにより、走査中に何回、図形の結合が起こっても、一定回数の処理で正確に特徴量を計測できるようにしたことを特徴とする1画面1走査型特徴量計測装置。【表1】
IPC (2件)：
G06F 15/70 350
, G06F 15/70 330
