特許

J-GLOBAL ID：200903032902207273

高分解能質量分析計

発明者： 大塚 紀一郎 ,  岩永 光恭 ,  石井 清孝 ,  金子 恒顕 ,  清水 昌男
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (1件)： 米澤 明 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-247771
公開番号（公開出願番号）：特開平8-111203
出願日： 1994年10月13日
公開日（公表日）： 1996年04月30日
要約：

【要約】【目的】 干渉イオンによる悪影響のない測定が可能な高分解能質量分析計を得る。【構成】 スリット幅により分解能を調整する高分解能質量分析計において、スリット幅を分解能に応じた大きさに調整するスリット幅調整装置、測定に必要な分解能を演算する分解能演算装置、質量数、同位体比を含む元素に関するデータを有する元素データテーブル、測定対象試料および干渉イオンに関するデータを入力する測定対象試料成分入力装置を有し、測定対象試料成分入力装置から入力されたデータと、元素データテーブルのデータにより、分解能演算装置において必要とする分解能を演算し、得られた演算結果に基づいてスリット幅調整装置によってスリット幅を調整の後に測定対象成分を測定する。【効果】 試料成分に応じて分解能を変化させた一連の測定が可能である。

請求項（抜粋）：

スリット幅により分解能を調整する高分解能質量分析計において、スリット幅を分解能に応じた大きさに調整するスリット幅調整装置、測定に必要な分解能を演算する分解能演算装置、質量数、同位体比を含む元素に関するデータを有する元素データテーブル、測定対象試料および干渉イオンに関するデータを入力する測定対象試料成分入力装置を有し、測定対象試料成分入力装置から入力されたデータと、元素データテーブルのデータにより、分解能演算装置において必要とする分解能を演算し、得られた演算結果に基づいてスリット幅調整装置によってスリット幅を調整の後に測定対象成分を測定することを特徴とする高分解能質量分析計。

IPC (3件)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/32