特許
J-GLOBAL ID：200903033007452404
蛍光測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-073698
公開番号（公開出願番号）：特開平11-271225
出願日： 1998年03月23日
公開日（公表日）： 1999年10月05日
要約：
【要約】【課題】測定条件の異なる複数の測定点の蛍光測定を自動的に実行することを目的とする。【解決手段】測定条件の異なる複数の測定点に対応させて電子光学系,分光光度計に対する測定条件を予め記録しておき、各測定点の測定時に測定条件を自動的に設定して測定を実行する。
請求項（抜粋）：
試料を励起させるための励起エネルギー線を試料上に照射させる手段と、励起された試料から発生する光を分光する分光手段と、装置制御用コンピュータと、前記装置制御用コンピュータから移動制御可能な試料ステージとを備え、試料測定の際に、測定順または測定位置ごとに測定条件の自動設定が可能であることを特徴とする蛍光測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/62 A
, G01N 23/225
