特許

J-GLOBAL ID：200903033085157583

粒子濃度測定方法および装置

発明者： 山本 元
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-239122
公開番号（公開出願番号）：特開2003-050195
出願日： 2001年08月07日
公開日（公表日）： 2003年02月21日
要約：

【要約】【課題】ガス中に含まれるNaOH粒子の濃度を測定する場合に、その濃度測定に時間、手間がかからないように連続的にモニターして、ガスの排出作業および排出管理を容易にした粒子濃度測定装置において、測定部の長寿命化を図ったこの種測定装置を提供する。【解決手段】NaOH粒子を含むガス中の、当該NaOHの粒子濃度を、光散乱式によって測定する場合に、前記NaOHの粒子濃度測定前に、被測定ガス中に二酸化炭素(CO2)を混入させ、強アルカリで化学的に活性な粒子であるNaOH粒子の表面に、化学的に不活性なNa2CO3被膜を形成する工程を付加する。

請求項（抜粋）：

苛性ソーダの粒子を含むガスに二酸化炭素を混入し、その後、苛性ソーダ粒子を含む前記ガスにレーザ光を照射し、前記苛性ソーダ粒子からの散乱光を測定し、散乱光の測定値に基づいて前記苛性ソーダ粒子の濃度を求めることを特徴とする粒子濃度測定方法。

IPC (2件)：

G01N 15/06 ,  G01N 1/36

FI (2件)：

G01N 15/06 C ,  G01N 1/28 Y

Fターム (6件)：

2G052AB00 ,  2G052CA32 ,  2G052FB05 ,  2G052GA11 ,  2G052JA22 ,  2G052JA26