特許
J-GLOBAL ID：200903033110359919
光ファイバを用いた構造物の変状計測方法および光ファイバセンサー
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
一色 健輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-273916
公開番号（公開出願番号）：特開2000-097647
出願日： 1998年09月28日
公開日（公表日）： 2000年04月07日
要約：
【要約】【課題】 構造物に大きな変位を生じても破断せずに変位を計測することができ、高い位置特定精度を有し、圧縮変位も詳細に計測できる変状計測方法の提供、およびそれに使用する光ファイバセンサーの提供。【解決手段】 計測対象となる構造物に螺旋状に整形した光ファイバセンサー15を取り付け、この光ファイバセンサー15の光伝搬特性の変化を電気光学的測定装置14により測定することで構造物の変状を計測する。
請求項（抜粋）：
計測対象となる構造物に螺旋状に整形した光ファイバセンサーを取り付け、この光ファイバセンサーの光伝搬特性の変化を電気光学的測定手段により測定することで前記構造物の変状を計測することを特徴とする光ファイバを用いた構造物の変状計測方法。
IPC (4件)：
G01B 11/16
, E01D 1/00
, G01D 21/00
, G02B 6/00
G01B 11/16 Z
, E01D 1/00 Z
, G01D 21/00 D
, G02B 6/00 B
2D059GG39
, 2F065AA65
, 2F065CC00
, 2F065FF41
, 2F065LL02
, 2F065SS11
, 2F076BA01
, 2F076BB09
, 2F076BD01
, 2F076BD06
, 2H038AA05
