特許

J-GLOBAL ID：200903033111526495

レンズ性能検査装置

発明者： 泉田 豊
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 奈良 武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-312510
公開番号（公開出願番号）：特開平7-140046
出願日： 1993年11月18日
公開日（公表日）： 1995年06月02日
要約：

【要約】【目的】 テストパターン部に回転等の機構を設けることなく、レンズ性能を検査する。【構成】 光源1と被検レンズ4との間にテストパターンを構成するための液晶2を配置する。テストパターンの投影像の結像位置に像走査手段5を設け、信号処理手段6により像を解析する。液晶ドライバ3で液晶2を制御し、検査方法、被検レンズの検査方向等によりテストパターンを変更する。液晶2がテストパターンを変更するため、回転機構が不要となる。

請求項（抜粋）：

光源と、光源からの光束により照射されるテストパターンと、このテストパターンの投影像を結像させる被検レンズと、前記投影像の位置的光強度分布を時系列信号に変換する像走査手段と、この像走査手段からの信号を処理する信号処理手段とを備え、前記テストパターンが液晶からなり、この液晶が液晶ドライバにより駆動制御可能となっていることを特徴とするレンズ性能検査装置。