発光分光分析装置のデータ処理方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岡田和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-136651
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332485
出願日： 1997年05月27日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】温度調整を不要にして構成を簡略化し、温風の悪影響も無くす。【解決手段】イメージセンサを用いた発光分光分析装置で、試料の主要元素が発するスペクトル光のうちの2つ以上を基準波長光とし、その入射可能な範囲W1,W2を基準波長光毎にイメージセンサ上に設定しておき、試料のスペクトル光もしくはスペクトル光に相当する光を受光したイメージセンサの前記範囲W1,W2内で、基準波長光もしくは前記光を探してその位置N1,N2を読み取り、これらの位置と、基準波長光もしくは前記光の波長λ1,λ2とから、この発光分光分析装置の分光系の変移の度合いを示す分散係数a[a=(λ2-λ1)/(N2-N1)]を算出し、この分散係数aを用いて、測定対象のスペクトル光のイメージセンサ上での入射位置Nxや、もしくはイメージセンサ上の位置Nxに対応するスペクトル光の波長λxを計算により求める。

請求項（抜粋）：

光検出器にイメージセンサを用いた発光分光分析装置におけるデータ処理方法であって、試料の主要元素が発するスペクトル光のうちの2つ以上を基準波長光として設定したうえで、設定した基準波長光もしくは基準波長光に相当する光のイメージセンサ上での入射位置から、この発光分光分析装置の分光系の変位の度合いを算出し、算出した分光系の変位の度合いに基づいて、測定対象スペクトル光のイメージセンサ上での入射位置を補正することを特徴とする発光分光分析装置のデータ処理方法。

引用特許：

審査官引用 (3件)

分光分析計の波長校正方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-228128 出願人：株式会社クボタ
分光型走査顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-344573 出願人：株式会社日立製作所
発光分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-340842 出願人：株式会社島津製作所

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