特許
J-GLOBAL ID：200903033152244615

多孔質体の空孔率の測定方法及び装置

発明者：
続山 浩二

続山 浩二 について


出願人/特許権者：
三井化学株式会社

三井化学株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-075230
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266693
出願日： 1999年03月19日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：
【要約】【目的】多孔質体の空孔率を非破壊かつ非接触で測定できる方法及び装置を提供することを技術的課題とする。【構成】自由空間法によりミリ波帯での多孔質体のみかけの誘電率を測定し、予め求められたこのみかけの誘電率と空孔率との関係から多孔質体の空孔率を求めることを特徴とする多孔質体の空孔率の測定方法および測定装置である。
請求項（抜粋）：
自由空間法によりミリ波帯での多孔質体のみかけの誘電率を測定し、予め求められたこのみかけの誘電率と空孔率との関係から多孔質体の空孔率を求めることを特徴とする多孔質体の空孔率の測定方法。
IPC (5件)：
G01N 22/00 ,  G01B 15/00 ,  G01N 27/22 ,  G01N 33/44 ,  G01R 27/26
FI (7件)：
G01N 22/00 Y ,  G01N 22/00 R ,  G01N 22/00 S ,  G01B 15/00 C ,  G01N 27/22 C ,  G01N 33/44 ,  G01R 27/26 H
Fターム (25件)：
2F067AA67 ,  2F067BB00 ,  2F067CC08 ,  2F067DD09 ,  2F067HH01 ,  2F067JJ01 ,  2F067KK08 ,  2F067RR44 ,  2G028AA04 ,  2G028BC02 ,  2G028CG09 ,  2G028DH15 ,  2G028FK10 ,  2G028HN14 ,  2G060AA20 ,  2G060AE40 ,  2G060AF11 ,  2G060EB03 ,  2G060EB07 ,  2G060HA01 ,  2G060HA02 ,  2G060HC10 ,  2G060HC13 ,  2G060HE10 ,  2G060KA09
引用特許：
審査官引用 (6件)
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引用文献：
審査官引用 (3件)

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