特許

J-GLOBAL ID：200903033169406465

欠陥検査装置

発明者： 布谷 正勝 ,  内藤 文彦
出願人/特許権者： エヌ・ティ・ティ・ファネット・システムズ株式会社 ,  オムロン株式会社
代理人 (1件)： 和田 成則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-154402
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005253
出願日： 1995年06月21日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 装置の構成が簡単になると共に、装置自体の大きさも小さくなり、かつ、検査時間を短縮する。【構成】 搬送ベルト1上に置かれて矢印Aの方向に移動するプリント配線板上におけるハンダ付着部分等の検査対象物2の欠陥を検査するもので、カラーラインセンサカメラ3と、カラーラインセンサカメラ3の下方に設けられ検査対象物2に対し異なる角度で波長帯域の光を同時に照射する各々2つの上部光源Uおよび下部光源Lと、カラーラインセンサカメラ3と接続された欠陥検査処理部4とを有している。欠陥検査処理部4は、カラーラインセンサカメラ3から出力されたRGB3種類の波長帯域毎の撮像データを入力して、照射モード毎に画像データの良否を判断し、ハンダ付着部分等の検査対象物2の欠陥を検査するように構成されている。

請求項（抜粋）：

検査対象物に対し異なる角度から光を照射すると共に、当該検査対象物を撮像して、照射モード毎の撮像データに基づき当該検査対象物の欠陥を検査する欠陥検査装置において、異なる角度から互いに異なる波長帯域の光を検査対象物に対し同時に照射する照射手段と、各照射モードに対応した受光波長帯域を有し、上記照射手段によって照射された上記検査対象物を撮像する撮像手段と、上記撮像手段からの撮像データを入力して照射モード毎に撮像手段からの撮像データを検出し、その照射モード毎に撮像データの良否を判断して上記検査対象物の欠陥を検査する欠陥検査処理手段と、を具備することを特徴とする欠陥検査装置。

IPC (5件)：

G01N 21/88 ,  B23K 1/00 ,  G01B 11/30 ,  G06T 7/00 ,  H05K 3/34 512

FI (5件)：

G01N 21/88 F ,  B23K 1/00 A ,  G01B 11/30 C ,  H05K 3/34 512 A ,  G06F 15/62 405 A

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開平3-175309
  
• 特開平4-166709
  
• 特開平4-355351
  
• 特開平3-209154
  

審査官引用 (4件)

• 特開平3-175309
  
• 特開平4-166709
  
• 特開平4-355351
  
• 特開平3-209154