特許
J-GLOBAL ID：200903033191893850
分光反射率測定装置および測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 剛宏 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-272703
公開番号（公開出願番号）：特開平10-122967
出願日： 1996年10月15日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：
【要約】【課題】複数の領域の分光反射率を高速且つ高精度に測定することのできる分光反射率測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】試料台20に配置した反射率が既知の基準白板の分光反射光量データを干渉フィルタを介して冷却CCDカメラ28により2次元的に測定し、これから、照明光の分光照射光量データを求める。次いで、前記試料台20にカラーチャートを配置し、その分光反射光量データを2次元的に測定し、前記分光照射光量データを用いて、各測定領域の分光反射率を求める。
請求項（抜粋）：
複数の分光反射率測定領域が2次元的に配列された測定対象シートが配置される試料台と、前記試料台に配置された前記測定対象シートにおける前記複数の分光反射率測定領域を照明光により照明する照明手段と、前記測定対象シートによる前記照明光の反射光を受光し、その受光量を2次元反射光量分布データとして測定する測定手段と、前記測定対象シートと前記測定手段との間に配置され、前記反射光を所定波長の光に分光して前記測定手段に導く分光手段と、前記測定手段により測定された所定波長の光の前記2次元反射光量分布データから所定の前記分光反射率測定領域における分光反射光量データを抽出し、前記分光反射光量データと前記照明光の分光照射光量データとから当該領域の分光反射率を求める分光反射率算出手段と、を備えることを特徴とする分光反射率測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01J 3/50
, G06F 15/66 310
