特許

J-GLOBAL ID：200903033206042924

画素ムラ欠陥の検出方法及び装置

発明者： 野田 正明 ,  小島 広一 ,  市川 裕也
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (4件)： 佐々木 宗治 ,  小林 久夫 ,  木村 三朗 ,  大村 昇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-004963
公開番号（公開出願番号）：特開2004-219176
出願日： 2003年01月10日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：

【課題】画面の画素ムラ欠陥を自動的に検出可能にするとともに、その欠陥の定量化を可能にした画素ムラ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。【解決手段】検査対象の画面10をCCDカメラ6により撮像する工程と、撮像によりコンピュータ7に取り込まれた画像から背景画像14との差をとり検査画像(背景差分画像)15を作成する工程と、前記検査画像の隣接画素の輝度差をソーベルフィルタにより強調するフィルタ処理を行う工程と、前記検査画像を複数のエリアに分割し、その分割エリア16ごとに輝度値の統計計算を行う工程と、前記統計計算による統計データに基づいて画素ムラ欠陥20を定量評価する工程とを有する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査対象の画面を撮像する工程と、 撮像により取り込まれた画像から背景画像との差をとり検査画像を作成する工程と、 前記検査画像の隣接画素の輝度差を強調するフィルタ処理を行う工程と、 前記検査画像を複数のエリアに分割し、その分割エリアごとに輝度値の統計計算を行う工程と、 前記統計計算による統計データに基づいて画素ムラ欠陥を定量評価する工程と、 を有することを特徴とする画素ムラ欠陥の検出方法。

IPC (5件)：

G01N21/88 ,  G01M11/00 ,  G02F1/13 ,  G06T1/00 ,  H04N7/18

FI (5件)：

G01N21/88 J ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G06T1/00 300 ,  H04N7/18 B

Fターム (32件)：

2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051EA08 ,  2G051EC02 ,  2G051EC05 ,  2G051ED03 ,  2G051ED04 ,  2G086EE10 ,  2H088FA13 ,  2H088FA30 ,  2H088HA10 ,  2H088MA20 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CE03 ,  5B057CE06 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DC22 ,  5B057DC32 ,  5B057DC36 ,  5C054AA01 ,  5C054AA04 ,  5C054CC02 ,  5C054FC03 ,  5C054FC14 ,  5C054FC16 ,  5C054HA05