特許
J-GLOBAL ID:200903033208504089

FRET検出方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 渡辺 望稔 ,  三和 晴子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-065742
公開番号(公開出願番号):特開2007-240424
出願日: 2006年03月10日
公開日(公表日): 2007年09月20日
要約:
【課題】蛍光検出情報の不確定要素を除外して、定量的にFRETの発生の程度(例えばFRET効率)を測定することを可能とするFRET検出方法および装置を提供する。 【解決手段】測定対象サンプルの蛍光のうち、ドナー分子が発するドナー蛍光成分の漏れ込み率と、アクセプタ分子が発するアクセプタ蛍光成分の漏れ込み率と、FRETが発生しない場合のドナー蛍光成分の非FRET蛍光寿命と、を少なくとも含む、予め記憶手段に記憶されているキャリブレーション情報を取得し、測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報と、ドナー蛍光成分の漏れ込み率およびアクセプタ蛍光成分の漏れ込み率とを用いて、ドナー蛍光成分のFRET蛍光寿命を求め、FRET効率を求める。【選択図】図8
請求項(抜粋):
第1分子および第2分子で標識された測定対象サンプルにレーザ光を照射し、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が励起光として第2分子を励起し、この励起された第2分子が発する蛍光を含む、前記測定対象サンプルの蛍光を受光することによって、第1分子のエネルギーが第2分子に移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer)を検出するFRET検出方法であって、 レーザ光の強度を所定の周波数で時間変調して前記測定対象サンプルについて照射し、このときの前記測定対象サンプルの蛍光を受光波長帯域の異なる複数の検出センサで受光することにより、前記測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集するステップと、 前記測定対象サンプルの前記蛍光のうち前記第1分子が発する第1分子蛍光成分の、複数の前記受光波長帯域それぞれの蛍光強度の比を表す第1分子蛍光漏れ込み率、および前記第1分子蛍光成分の位相情報と、前記蛍光のうち前記第2分子が発する第2分子蛍光成分の、複数の前記受光波長帯域それぞれの蛍光強度の比を表す第2分子蛍光漏れ込み率、および前記第2分子蛍光成分の位相情報と、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が1次遅れ系の緩和応答であるとしたときの、前記FRETが発生しない場合の前記第1分子蛍光成分の非FRET蛍光寿命と、を少なくとも含む、予め記憶手段に記憶されているキャリブレーション情報を取得するステップと、 各検出センサから収集された前記検出値から、複数の前記受光波長帯域それぞれの、前記測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報を求めて、求めた前記蛍光強度情報および前記位相情報と、前記第1分子蛍光漏れ込み率および前記第1分子蛍光成分の前記位相情報と、前記第2分子蛍光漏れ込み率および前記第2分子蛍光成分の前記位相情報と、を用いて、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が1次遅れ系の緩和応答であるとしたときの、前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命を求めるステップと、 前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命と、前記第1分子蛍光成分の前記非FRET蛍光寿命との比を用いて表されるFRET発生情報を求めるステップと、を有することを特徴とするFRET検出方法。
IPC (1件):
G01N 21/64
FI (2件):
G01N21/64 B ,  G01N21/64 F
Fターム (19件):
2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA25 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G043NA13
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 蛍光分光分析の方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-013317   出願人:オリンパス株式会社

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