特許
J-GLOBAL ID：200903033228092640
光学式ピツクアツプ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
後藤 洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-213888
公開番号（公開出願番号）：特開平5-054421
出願日： 1991年08月26日
公開日（公表日）： 1993年03月05日
要約：
【要約】【目的】 光学式ピックアップのエラー検出系の電気オフセットの発生要因を排除すること。【構成】 光学式ピックアップの光学素子を収納するケースケース15の内面のうち、余剰光が出射する部位に45°のテーパ部17を設け、偏光ビームスプリッタ3から出射した余剰光をケース15の外部に逃がす。テーパ部に黒色塗装すると一層効果的である。【効果】 余剰光を光学系内に再び迷光として入射することを防止出来、正確な測定が可能となる。
請求項（抜粋）：
円盤状記録媒体に各種情報の再生、記録・再生、もしくは記録・再生・消去を行う装置であって、光源である半導体レーザと、該半導体レーザから出射した光束を平行光とするコリメートレンズと、前記半導体レーザの前方に配置された第1の偏光ビームスプリッタと、該第1の偏光ビームスプリッタの前方に配置された直角プリズムと、前記直角プリズムから出射した光束を前記円盤状記録媒体上に集光させる対物レンズと、この対物レンズを駆動する対物レンズ駆動装置と、前記第1の偏光ビームスプリッタのS偏光成分の出射面の一方の前方に配置された第2の偏光ビームスプリッタと、該第2の偏光ビームスプリッタに接合された4/λ板と、該4/λ板に接合された凹面鏡ハーフミラーと、前記第2の偏光ビームスプリッタのS偏光成分の出射面の一方の前方に配置された第3の偏光ビームスプリッタと、他方の前方に配置されたナイフエッジと、該ナイフエッジの前方に配置された少なくとも2分割以上の第1の受光素子と、前記凹面鏡ハーフミラーの前方に配置された少なくとも2分割以上の第2の受光素子と、前記第2の偏光ビームスプリッタの出射面の各々の前方に配置された第1および第2の受光素子と、前記これらの光学素子を収納するケースとから構成される光学式ピックアップにおいて、前記ケースの前記第1の偏光ビームスプリッタのS偏光成分の他方の出射面の前方に、少なくとも45°以上のテーパ部を設けたことを特徴とする光学式ピックアップ。
IPC (2件)：
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