特許
J-GLOBAL ID:200903033293212997
成形容器内の応力検出システムおよび方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
青山 葆 (外2名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-507366
公開番号(公開出願番号):特表2002-513463
出願日: 1997年06月04日
公開日(公表日): 2002年05月08日
要約:
【要約】欠陥を見付けるため容器1(114)を検査するシステム(122)と方法に関する。光源(174)と前記容器(114)との間に配置された第1偏光子(190)が、前記容器(114)を照明するための前記光源(174)から供給された光を偏光する。前記容器(114)とカメラ(168)との間に配置された第2偏光子(192)が、前記容器(114)を通過し前記カメラ(168)に達する光を偏光する。配置された状態で、前記第1(190)および第2(192)偏光子の光伝達軸(182)はお互いに非平行である。画像処理装置(144)が、前記カメラ(168)で作り出された画像を、前記容器の欠陥を検出するために前記画像の光学特性の関数として処理する。
請求項(抜粋):
応力欠陥を見付けるために容器を検査するシステムであって、 前記容器を照明するために光を供給する光源と、 前記照明された容器の画像であって、その画像の光学特性を示す値をそれぞれが有している複数の画素を含んだもの、を形成するカメラと、 前記容器を照明する光を偏光するため、前記光源と前記容器との間に位置する第1偏光子と、 容器を通過して前記カメラに達する光を偏光するため、前記容器と前記カメラとの間に位置する第2偏光子と、 ここに、前記第1および第2偏光子のそれぞれは光伝達軸を有し、この2つの光伝達軸はお互いに非平行であり、 前記容器の欠陥に対応する前記画像内のエッジを検出するため、前記カメラによって形成された画像を、前記画素値の関数として処理する画像処理装置と、からなる、システム。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/90 A
, G01L 1/00 B
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