特許

J-GLOBAL ID：200903033296425541

情報処理装置、情報処理基板、および検査方法、並びにプログラム格納媒体

発明者： 橋本 健一
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 稲本 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-247229
公開番号（公開出願番号）：特開2002-063077
出願日： 2000年08月17日
公開日（公表日）： 2002年02月28日
要約：

【要約】【課題】 不良を確実に、かつ迅速に知る。【解決手段】 解析・検査専用コネクタ61は、治具基板52に接続する。基板51は、リセットされたとき、治具基板52が接続されているか否かを検知し、解析・検査用ROM71の検査プログラムに基づいて、CPU11のレジスタのみを使用してDRAM14を初期化し、解析・検査用ROM71の検査プログラムに基づいて、CPU11のレジスタのみを使用してDRAM14の容量を検出し、DRAM14に対する処理の状態を出力する。

請求項（抜粋）：

中央処理演算部と半導体メモリとを有し所望の処理を行う情報処理装置において、外部検査装置に接続するコネクタと、リセットされたとき、前記外部検査装置が接続されているか否かを検知する検知手段と、前記外部検査装置内の検査プログラムに基づいて、前記中央処理演算部のレジスタのみを使用して前記半導体メモリを初期化する初期化処理手段と、前記外部検査装置内の前記検査プログラムに基づいて、前記中央処理演算部のレジスタのみを使用して前記半導体メモリの容量を検出する容量検出処理手段と、前記半導体メモリに対する前記処理の状態を出力する状態出力手段とを備えることを特徴とする情報処理装置。

IPC (5件)：

G06F 12/16 ,  G06F 12/16 330 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330

FI (5件)：

G06F 12/16 B ,  G06F 12/16 330 A ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 11/22 330 J ,  G01R 31/28 B

Fターム (13件)：

2G032AA07 ,  2G032AE09 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12 ,  2G032AK02 ,  2G032AK03 ,  5B018GA03 ,  5B018MA01 ,  5B018PA03 ,  5B018QA13 ,  5B048AA19 ,  5B048AA22 ,  5B048DD01