特許

J-GLOBAL ID：200903033298697182

真珠の品質評価方法及びその装置

発明者： 高田 元弘 ,  橋本 勝行 ,  加賀山 明嗣 ,  丹野 英明 ,  深見 輝基 ,  浅田 栄一 ,  大塚 明
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社 ,  株式会社愛媛パールギルド
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-027688
公開番号（公開出願番号）：特開平7-234208
出願日： 1994年02月25日
公開日（公表日）： 1995年09月05日
要約：

【要約】【目的】本発明は、真珠の巻きの厚さを正確に測定でき、信頼性及び客観性の高い品質評価を可能にすることを目的とする。【構成】この装置は、真珠Sに対して超音波を送波すると共にその真珠からの反射波を受波して電気的な受信信号に変換する送受信手段1〜4と、この送受信手段1〜4で変換された受信信号から前記真珠Sの表面反射波と前記真珠Sの界面反射との時間差を検出する時間差検出手段17と、この時間差検出手段17で検出された前記時間差に基づいて前記真珠の巻きの厚さを算出する厚さ計算手段17とを具備する。

請求項（抜粋）：

真珠に超音波を入射し、その反射波から前記真珠の品質評価値を求めることを特徴とする真珠の品質評価方法。

IPC (2件)：

G01N 29/10 506 ,  G01B 17/02

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 超音波検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-160728   出願人：松下電器産業株式会社
• 真珠の巻きの厚み測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-258827   出願人：エフニック株式会社