特許
J-GLOBAL ID：200903033308929290
円筒物の表面欠陥検査方法と表面欠陥検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 隆久 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-316669
公開番号（公開出願番号）：特開平6-148079
出願日： 1992年10月30日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：
【要約】【目的】検査精度の向上を図り、高速かつ信頼性の高い円筒物の表面欠陥検査を行う。【構成】アルミ缶Cの円周方向に対し3つのラインセンサ1a,1b,1cを120 ゚間隔で配設し、アルミ缶表面を均一に照明するように配置された光源によるアルミ缶の画像をラインセンサ1a,1b,1cにより取り込み、該画像情報を画像処理解析することによりアルミ缶の表面欠陥の有無を判別する。高速搬送され、かつ多数のアルミ缶を全数検査する場合に適用する。
請求項（抜粋）：
円筒物の円周方向に対し3つの撮像手段をほぼ等配に配設し、対象となる円筒物表面を均一に照明するように配置された光源による前記円筒物の画像を前記撮像手段により取り込み、該画像情報を画像処理解析することにより前記円筒物の表面欠陥の有無を判別することを特徴とする円筒物の表面欠陥検査方法。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G06F 15/62 400
, G06F 15/64
