特許
J-GLOBAL ID：200903033309482035
不良製品の光学検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-095514
公開番号（公開出願番号）：特開平8-292162
出願日： 1995年04月20日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：
【要約】【構成】製品Aを搬送する搬送機構1の両側に搬送ガイド部材3を設け、また方向性のある光を照射する照明機構5を設け、この照明光が上記の搬送ガイド部材3に遮られて搬送機構1には照射されないようにした。【効果】搬送機構1に製品の粉末や埃等が付着しても、この搬送機構1には照明光が照射されないので反射が生じることがなく、ノイズが防止され、製品の画像処理の効率が向上し、また検出の精度および信頼性が向上する。
請求項（抜粋）：
製品の欠陥を光学的に検出する装置であって、この製品を搬送する搬送機構と、この搬送機構の両側に配置されこの搬送機構によって搬送される製品を案内する搬送ガイド部材と、上記の搬送ガイド部材より上方に配置された照明機構と、上記の搬送機構の上方に配置されこの搬送機構によって搬送される製品の画像を撮影するカメラと、このカメラからの画像を処理してその画像信号を2値化して上記の製品の欠陥を検出する画像処理装置とを備え、上記の照明機構は方向性のある照明光を放射するとともに、この照明機構および上記の搬送ガイド部材は、上記の照明機構から放射された照明光が上記の搬送機構によって搬送される製品には照射されるとともに上記の搬送ガイド部材の上面に遮られて上記の搬送機構には照射されない位置に配置されていることを特徴とする不良製品の光学検出装置。
IPC (4件)：
G01N 21/89
, G01B 11/24
, G01N 33/02
, G06T 7/00
G01N 21/89 Z
, G01B 11/24 H
, G01N 33/02
, G06F 15/62 400
