特許
J-GLOBAL ID:200903033316239383

放射線ビーム照射方法および装置並びに放射線断層撮影装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-234258
公開番号(公開出願番号):特開2000-060841
出願日: 1998年08月20日
公開日(公表日): 2000年02月29日
要約:
【要約】【課題】 スライス厚に無関係なレファレンス信号等を得る放射線ビーム照射方法および装置、並びに、そのような放射線ビーム照射装置を備えた放射線断層撮影装置を実現する。【解決手段】 放射線照射手段20と放射線検出素子アレイ24の間の被検体8が存在する空間には、放射線ビームの厚みを可変にして照射し、レファレンスチャンネル14には放射線ビームの厚みを固定にして照射する。
請求項(抜粋):
放射線照射手段が照射する放射線をコリメータを通して進行方向に垂直でかつ互いに垂直な2つの方向でそれぞれ幅と厚みをなし厚みが幅よりも小さい放射線ビームとし、レファレンス用放射線検出素子を含む複数の放射線検出素子を有する放射線検出素子アレイに照射する放射線ビーム照射方法であって、前記コリメータにより前記レファレンス用放射線検出素子を除く前記複数の放射線検出素子に前記放射線ビームの厚みを可変にして照射する、ことを特徴とする放射線ビーム照射方法。
IPC (2件):
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 320
FI (2件):
A61B 6/03 350 G ,  A61B 6/03 320 K
Fターム (5件):
4C093AA22 ,  4C093BA03 ,  4C093CA01 ,  4C093CA50 ,  4C093EA12
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平2-034153
  • X線撮像装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-233531   出願人:株式会社島津製作所

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