特許
J-GLOBAL ID：200903033350137905
分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-234705
公開番号（公開出願番号）：特開平5-072039
出願日： 1991年09月13日
公開日（公表日）： 1993年03月23日
要約：
【要約】【目的】 分光蛍光光度計の波長特性を励起側についても蛍光側と同様に広げてスペクトル補正ひいては測定レンジを高精度に広げる。【構成】 S1で波長領域λ1(200〜600nm)の励起側波長特性Fex1(λEX)を光量子計を用いて求める。S2で標準光源又は副標準光源を用いて波長領域λ2(500〜900nm)の蛍光側波長特性Fem2(λEM)を求める。S3で光学系の全波長領域λ1,λ2について励起側,蛍光側の波長を一致させつつ走査する。得られたスペクトルは、励起側,蛍光側両方の波長特性の積となり、このスペクトル値と既知のFex1(λEX),Fem2(λEM)とを比演算して、λ1の蛍光側波長特性Fem1(λEM)とλ2の励起側波長特性Fex2(λEX)が求まり、これらの波長特性からλ1,λ2の励起側,蛍光側の補正関数が求まる。
請求項（抜粋）：
光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値(蛍光スペクトル値)から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計のスペクトル補正を行う場合に、所定の波長領域の蛍光側光学系の波長特性を標準光源又は標準光源により校正された光源(副標準光源)を利用して求め、且つ前記所定の波長領域について前記励起側分光器,蛍光側分光器により励起側,蛍光側の両波長を一致させながら同時走査して蛍光スペクトルを測定し、この測定された蛍光スペクトル値と前記標準光源又は副標準光源を利用して求めた前記蛍光側光学系の波長特性との比演算により前記所定の波長領域における励起側光学系の波長特性を算出し、この励起側光学系の波長特性及び前記蛍光側光学系の波長特性に基づきスペクトル補正関数を定めることを特徴とする分光蛍光光度計のスペクトル補正方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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