特許
J-GLOBAL ID：200903033392849190
自動分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-000875
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201536
出願日： 1993年01月07日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：
【要約】【目的】 コントロール試料による測定を容易に行なうことのできる自動分析装置を提供することを目的とする。【構成】 各分析部の所定位置にコントロール試料を保持する保持機構を設け、サンプラから送り出されたコントロール試料を保持する。そして、所定の測定回数毎又は所定の測定時間間隔毎に保持されたコントロール試料を取出し測定を行なう。【効果】 操作者の労力が著しく軽減される。
請求項（抜粋）：
複数の試料をレーン上で搬送し、該レーンの経路近傍にある分析部にて順次自動分析を行ない、測定結果を得る自動分析装置において、分析精度を確認するための精度管理試料が移送された際に、これを検知する試料検知手段と、前記分析部の所定位置に設けられ前記精度管理試料を保持する保持手段と、所定の制御指令に従って前記移送された精度管理試料を分析部の保持手段に保持させ、所定のタイミングで当該精度管理試料のサンプリングを行なうべく制御する制御手段と、を有することを特徴とする自動分析装置。
IPC (3件)：
G01N 1/00 101
, G01N 1/00
, G01N 35/06
