特許
J-GLOBAL ID：200903033405005370
外径測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
塩川 修治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-357383
公開番号（公開出願番号）：特開平6-194128
出願日： 1992年12月24日
公開日（公表日）： 1994年07月15日
要約：
【要約】【目的】 この発明は、連続的に製造される被測定物たる製品の製造工程に影響を与えることなく、被測定物の外径を高精度にて測定できる。【構成】 この発明は、円形断面を備えたスパイラル鋼管10へ向けてレーザー光18、18Aを投光する投光器13と、スパイラル鋼管に関し投光器と反対位置に設置され投光器からのレーザー光を受光する受光器14と、スパイラル鋼管及び受光器の距離Mを継続するレーザー距離計15と、投光器から投光されスパイラル鋼管の外周面に接点Cにて接して受光器に受光されたレーザー光の受光位置とレーザー距離計にて測定された上記距離Mとからスパイラル鋼管10の外径Dを算出する演算器16と、を有するものである。
請求項（抜粋）：
円形断面を備えた被測定物へ向けて光を投光する投光器と、上記被測定物に関し上記投光器と反対位置に設置され上記投光器からの光を受光する受光器と、上記被測定物及び上記受光器間の距離を計測する距離計と、上記投光器から投光され上記被測定物の外周面に接して上記受光器に受光された光の位置と上記距離計にて測定された距離とから上記被測定物の外径を算出する演算器と、を有する外径測定装置。
引用特許：
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