特許
J-GLOBAL ID：200903033407144768

X線質量測定装置

発明者：
永塚 一毅

永塚 一毅 について

, 
八木 将博

八木 将博 について


出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社

アンリツ産機システム株式会社 について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-318674
公開番号（公開出願番号）：特開2009-139330
出願日： 2007年12月10日
公開日（公表日）： 2009年06月25日
要約：
【課題】測定物が連続体であっても、製品になる前の連続体の物理量を算出でき、製品となったときの質量などの物理量の過不足を事前に発見でき、連続体の製造工程にフィードバックでき、作業効率を向上させることができるX線質量測定装置を提供する。【解決手段】連続体10を延在方向に搬送する搬送部2と、搬送部2により搬送中の連続体10に対しX線を照射するX線発生源3と、連続体10を透過したX線の透過量を検出するX線検出器4と、連続体の一部を単位ブロックとして設定する単位ブロック設定手段と、X線検出器4で検出された透過量に基づいて、連続体10の単位ブロックの領域において吸収されたX線の吸収量を単位X線吸収量として算出するX線吸収量算出手段82aと、連続体10の搬送方向における一定区間の単位X線吸収量の移動平均を算出するX線吸収量移動平均算出手段84aと、を備えたことを特徴とする。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
連続体(10)を延在方向に搬送する搬送手段(2)と、 前記搬送手段により搬送中の前記連続体に対しX線を照射するX線照射手段(3)と、 前記連続体を透過した前記X線の透過量を検出するX線透過量検出手段(4)と、 前記連続体の一部を単位ブロックとして設定する単位ブロック設定手段(7)と、 前記X線透過量検出手段で検出された透過量に基づいて、前記連続体の前記単位ブロックの領域において吸収されたX線の吸収量を単位X線吸収量として算出するX線吸収量算出手段(82a)と、 前記連続体の前記搬送方向における一定区間の前記単位X線吸収量の移動平均を算出する移動平均算出手段(84)と、 を備えたことを特徴とするX線質量測定装置。
IPC (2件)：
G01B 15/00 ,  G01N 23/06
FI (2件)：
G01B15/00 A ,  G01N23/06
Fターム (20件)：
2F067AA57 ,  2F067AA58 ,  2F067BB11 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL03 ,  2F067LL14 ,  2F067PP15 ,  2F067QQ13 ,  2F067RR12 ,  2F067RR41 ,  2F067SS13 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • X線検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-126794   出願人：アンリツ産機システム株式会社
審査官引用 (8件)
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