特許
J-GLOBAL ID:200903033444930986

物質を分析するための方法と構成

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小倉 正明
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-524003
公開番号(公開出願番号):特表2005-527782
出願日: 2002年05月17日
公開日(公表日): 2005年09月15日
要約:
本発明はキャリア流体中において、外層が設けられた少なくとも1つの磁性粒子の磁気応答変化を検出するための方法に関し、その方法が前記外層に関して前記磁性粒子の特徴的な回転時間の測定方法の使用を含み、その測定方法が外部交番磁場の影響下での前記キャリア流体中のブラウン緩和の測定を含む。この方法は、粒子の有効体積または粒子のキャリア流体との相互作用を修正すると、粒子の流体力学的体積が変化し、これは磁化率の異位相成分がその最大値を示す周波数(fmax)の変化をもたらすことを示唆する。
請求項(抜粋):
キャリア流体中において、外層が設けられた少なくとも1つの磁性粒子の磁気応答変化を検出するための方法であって、前記方法が前記外層に関して前記磁性粒子の固有回転時間の測定方法の使用を含み、該測定方法が外部交番磁場の影響下での前記キャリア流体中のブラウン緩和の測定を含んでおり、 前記方法はさらに、磁化率の異位相成分がその最大値を示す周波数(fmax)の変化をもたらす前記粒子の流体力学的体積を変化する、前記粒子の有効体積または前記粒子の前記キャリア流体との相互作用の修正を含むことを特徴とする方法。
IPC (3件):
G01N27/76 ,  G01N33/543 ,  G01N33/566
FI (3件):
G01N27/76 ,  G01N33/543 541A ,  G01N33/566
Fターム (21件):
2G053AA04 ,  2G053AB01 ,  2G053AB06 ,  2G053BA04 ,  2G053BA05 ,  2G053BA08 ,  2G053BB02 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA19 ,  2G053CB05 ,  2G053CB12 ,  2G053CB25 ,  2G053DA02 ,  2G053DA07 ,  2G053DA09 ,  2G053DA10 ,  2G053DB02
引用特許:
審査官引用 (2件)

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