特許
J-GLOBAL ID:200903033484093050
艶消し表面処理不要の歯の光学測定方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
伊東 忠彦 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-102489
公開番号(公開出願番号):特開平6-125926
出願日: 1993年04月28日
公開日(公表日): 1994年05月10日
要約:
【要約】【目的】 本発明は従来の歯の艶消し処理を必要としない光学的触針による歯の3次元測定方法を提供することを目的とする。【構成】 歯の表面3を第1段階において光学的に測定し、第2段階において複数の測定点6を誤差補正する。歯の表面3の所望の点5の正確な座標値は精確に決定されて基準座標値として記憶され、点5は反射による測定誤差を考慮して異なった投光/受光位置から光学的に更に測定され、基準座標値と測定された座標値6a〜6eの間の相違が各々の点について計算され、対応する投光/受光位置15a〜15eとともに記憶される。
請求項(抜粋):
歯の表面(3)が第1段階において光学的に測定される歯の艶消し不要光学的3次元測定方法であって、第2段階において複数の測定点(6)のデータは誤差補正されることを特徴とする歯の艶消し不要光学的3次元測定方法。
前のページに戻る