特許
J-GLOBAL ID:200903033533137890

光計測型電流・磁場測定器及び光計測型電場測定器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 洋介 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-036882
公開番号(公開出願番号):特開平7-244085
出願日: 1994年03月08日
公開日(公表日): 1995年09月19日
要約:
【要約】【目的】 高周波ノイズの悪影響を減少させて、精度良く磁場(電場)の測定を行うこと。【構成】 光源20として、誘導利得を受けた自然放出光を発するものを使用する。具体的には、光源20は、コヒーレンス長が10μm〜100μmの範囲にあり、広がり角が15度〜50度の範囲にある光を出射するものを使用する。光源20とセンサ部40とを光学的に結合するための伝送用光ファイバ30として、偏波面保存光ファイバを使用する。また、センサ部40から出射された変調光を計測部60へ導くための導光ファイバ51,52として、マルチモードファイバを使用する。
請求項(抜粋):
検査光を出射する光源と;磁場中に配置され、一端から前記検査光を入射し、該入射した検査光の偏波面を前記磁場の強度に比例して変化させるファラデー効果を呈し、他端から偏波面の変化した変調光を出射する光ファイバをセンサ素子として含むセンサ部と;前記検査光に対する前記変調光の偏波面の変化量を計測する計測部と;を備えた光計測型電流・磁場測定器において、前記光源が誘導利得を受けた自然放出光を前記検査光として出射するものであることを特徴とする光計測型電流・磁場測定器。
IPC (3件):
G01R 15/22 ,  G01R 29/12 ,  G01R 33/032
引用特許:
審査官引用 (9件)
  • 特開平1-292263
  • 特開平2-146778
  • 光ファイバジャイロ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-319115   出願人:日本航空電子工業株式会社
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