特許
J-GLOBAL ID:200903033561441309
流体中の粒子分析装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西野 卓嗣
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-354791
公開番号(公開出願番号):特開平9-311103
出願日: 1986年10月07日
公開日(公表日): 1997年12月02日
要約:
【要約】【課題】 流体中を断続的に流れる粒子の静止画像を、効率よく撮影し解析することを目的とする。【解決手段】 粒子をシース液で囲繞して流動させるフローセルと、粒子にトリガー用の光を常時照射するトリガー用光源と、粒子の撮像時にパルス光を発光するレーザーパルス光源と、トリガー用光源からの光を粒子が横切ったことを検知して検知信号を発生する粒子検出器と、粒子検出器からの信号に基づきレーザーパルス光源を発光させる手段と、パルス光を粒子に照射する集光レンズと、パルス光による粒子の静止画像を撮像するための対物レンズおよび撮像手段と、得られた静止画像を処理し解析する画像処理部とよりなる。
請求項(抜粋):
粒子を浮遊させた液体試料をシース液で囲繞して流動させるためのフローセルと、上記粒子の流れる上記液体試料の領域にトリガー用の光を常時照射するための半導体レーザにてなるトリガー用光源と、上記粒子の撮像時にパルス光を発光する撮像用パルス光源と、上記トリガー用光源からの光を上記粒子が横切ったことを検知して粒子検知信号を発生する粒子検出器と、上記粒子検知信号に基づき上記撮像用パルス光源を発光させる手段と、上記撮像用パルス光源からのパルス光を粒子に照射する集光レンズと、上記パルス光による粒子の静止画像を撮像するための対物レンズおよび撮像手段と、得られた静止画像を処理し解析する画像処理部と、を具備することを特徴とする流体中の粒子分析装置。
IPC (3件):
G01N 15/14
, G01N 33/48
, G01N 33/49
FI (4件):
G01N 15/14 D
, G01N 33/48 M
, G01N 33/49 K
, G01N 33/49 A
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