特許

J-GLOBAL ID：200903033606201967

表面プラズモン測定方法および装置

発明者： 内山 兼一 ,  森山 康司 ,  大原 仁
出願人/特許権者： 東陶機器株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-305010
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118802
出願日： 1997年10月20日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：

【要約】【課題】 従来の表面プラズモンを利用した装置と同等の構成で、低濃度被検体や低分子被検体の検出、測定を可能にする測定方法及び装置を提供することを目的とする。【解決手段】 検出表面に被検体と特異的に結合する結合種を固定化し表面プラズモンを利用した測定方法において、被検体が吸収する波長または被検体に結合した色素が吸収する波長の光と同等の波長の光をセンサーチップ表面に照射して基準となる第一の共振カーブと、被検体が吸収する波長または被検体に結合した色素が吸収する波長の光と同等の波長の光をセンサーチップ表面に照射してセンサーチップ表面に照射した光を被検体または被検体に結合した色素が吸収して得られたときの第二の共振カーブとを比較することにより被検体の検出を行うことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

検出表面に被検体と特異的に結合する結合種を固定化し表面プラズモンを利用した測定方法において、被検体が吸収する波長の光と同等の波長の光または被検体に結合した色素が吸収する波長の光と同等の波長の光をセンサーチップ表面に照射して基準となる表面プラズモン共振カーブを測定する第一の共振カーブ測定工程と、被検体が吸収する波長の光と同等の波長の光または被検体に結合した色素が吸収する波長の光と同等の波長の光をセンサーチップ表面に照射してセンサーチップ表面に照射した光を被検体または被検体に結合した色素が吸収して得られたときの表面プラズモン共振カーブを測定する第二の共振カーブ測定工程と、第一の共振カーブ測定工程で得られた第一の共振カーブと第二の共振カーブ測定工程で得られた第二の共振カーブとを比較することにより被検体の検出を行う被検体検出工程とを備えたことを特徴とする表面プラズモン測定方法。

IPC (3件)：

G01N 33/543 595 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/31

FI (3件)：

G01N 33/543 595 ,  G01B 11/30 Z ,  G01N 21/31 Z