特許

J-GLOBAL ID：200903033662274616

懸濁物質の分離性能評価方法

発明者： 礒井 晶子 ,  城 邦恭 ,  寺尾 学
出願人/特許権者： 東レ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-204310
公開番号（公開出願番号）：特開平11-047629
出願日： 1997年07月30日
公開日（公表日）： 1999年02月23日
要約：

【要約】【課題】懸濁物質の分離性能を評価するにあたり、高粒径粒子による影響を受けずに、低粒径粒子の分離性能を評価する懸濁物質の分離性能評価方法を提供する。【解決手段】懸濁物質の分離性能を評価するにあたり、平均粒子径が1μm以上5μm以下の懸濁粒子を使用することを特徴とする懸濁物質の分離性能評価方法。

請求項（抜粋）：

懸濁物質の分離性能を評価するにあたり、平均粒子径が1μm以上5μm以下の懸濁粒子を使用することを特徴とする懸濁物質の分離性能評価方法。