特許

J-GLOBAL ID：200903033699963560

磁気共鳴検査装置

発明者： 津田 宗孝 ,  高根 淳 ,  薮崎 征雄
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-329165
公開番号（公開出願番号）：特開平5-161626
出願日： 1991年12月12日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：

【要約】【目的】 磁気共鳴検査装置において、被検者に検査の進行過程を視覚的に伝達し、撮影時に被検者が容易に且つ正確に静止できるようにして、検査精度を向上すると共に被検者の不安感を低減する。【構成】 制御回路から検査の進行過程を示す制御信号が照明制御回路に供給される。照明制御回路は制御信号に基づいて、磁石内照明板の発光強度及び発光色等を検査の進行過程に従って変化させる。これにより、被検者に検査の進行過程を視覚的に伝達して、検査精度を向上できると共に、磁場発生空間内を照明して被検者の不安感を低減することができる。

請求項（抜粋）：

静磁場、傾斜磁場及び高周波磁場のそれぞれを発生する磁場発生手段と、検査対象からの磁気共鳴信号を検出する信号検出手段と、前記信号検出手段からの検出信号に基づいて演算を行う演算手段と、前記磁場発生手段の動作を制御する磁場発生制御手段と、前記演算手段による演算結果を出力する出力手段とを有する磁気共鳴検査装置において、前記静磁場、傾斜磁場、高周波磁場が発生される空間内に少なくとも配置され、この空間内に光を与える発光体と、前記磁場発生制御手段の制御動作に連動して前記発光体による発光動作を制御する発光体制御手段とを備えることを特徴とする磁気共鳴検査装置。

FI (3件)：

A61B 5/05 370 ,  A61B 5/05 320 ,  A61B 5/05 390

引用特許：

審査官引用 (1件)

• MRI装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-316961   出願人：株式会社島津製作所