特許

J-GLOBAL ID：200903033701150490

X線回折装置

発明者： 藤縄 剛 ,  田口 武慶
出願人/特許権者： 理学電機株式会社
代理人 (1件)： 山本 寿武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-326883
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146872
出願日： 1998年11月17日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】 X線管から発生する連続X線を利用することにより、任意波長の入射X線を試料に照射して各種のX線回折測定を容易に実施可能とする。【解決手段】 X線管7から放射された連続X線をキャピラリ束1によって平行X線ビームとして取り出し、モノクロメータ8の働きによってその平行X線ビームから特定波長(すなわち、特定エネルギ)のX線を取り出し試料Sに照射する。そして、試料Sで発生した回折X線をソーラースリット9で収束しX線検出器10で受光する。

請求項（抜粋）：

試料に入射角θでX線を入射したとき試料から回折してくる回折X線を検出して試料の物理的特性等を測定するX線回折装置において、X線を放射するX線源と、放射されたX線を平行X線ビームとして取り出すためのキャピラリ束と、その平行X線ビームを受け取って特定波長の平行X線ビームを選択して出射する波長選択手段と、前記特定波長の平行X線ビームを試料に所定角度で入射したとき該試料から回折してくる回折X線を収束するためのX線収束手段と、前記収束された回折X線の強度を検出するX線検出器とを備えたことを特徴とするX線回折装置。

IPC (3件)：

G01N 23/207 ,  G01L 1/00 ,  G21K 1/06

FI (3件)：

G01N 23/207 ,  G01L 1/00 A ,  G21K 1/06 G

Fターム (13件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001EA02 ,  2G001EA09 ,  2G001EA20 ,  2G001GA01 ,  2G001GA13 ,  2G001KA07 ,  2G001SA01 ,  2G001SA02 ,  2G001SA30