すき入れ検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：石戸元 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-362210
公開番号（公開出願番号）：特開2000-182114
出願日： 1998年12月21日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】透かし画像の欠陥検出を精度良く行うことができるすき入れ検査装置を提供する。【解決手段】正規化相関法処理部24の正規化相関法により、画像パターンのコントラストの高い部分の欠陥検査を行い、ミクロフィルター処理部25のミクロフィルターにより、画像パターンの無い部分及びコントラストの低い部分の欠陥検査を行い、濃淡モホロジー処理部26の濃淡モホロジーにより、画像パターンのコントラストの変化が緩やかな部分の欠陥検査を行うようにする。

請求項（抜粋）：

検査対象となる検査対象透かし画像を撮像する撮像手段と、基準となる基準透かし画像の全体パターンを格納する基準パターン格納部と、前記全体パターンに基づき、前記検査対象透かし画像の検査領域を設定するとともに、前記検査対象透かし画像の画像パターンのコントラストの高い部分の欠陥検査を行う第1のアルゴリズムと、この第1のアルゴリズムによって設定された前記検査領域内の画像パターンの無い部分及びコントラストの低い部分の欠陥検査を行う第2のアルゴリズムと、前記第1のアルゴリズムによって設定された前記検査領域内の画像パターンのコントラストの変化が緩やかな部分の欠陥検査を行う第3のアルゴリズムとを有する画像処理検査部とを備え、前記第1〜3のアルゴリズムによる前記基準透かし画像と検査対象透かし画像とのマッチングによって、前記検査対象透かし画像の欠陥が相互補完的に検査されることを特徴とするすき入れ検査装置。

IPC (3件)：

G07D 7/00 , G01N 21/89 , G06T 7/00

FI (3件)：

G07D 7/00 E , G01N 21/89 610 A , G06F 15/62 410 Z

Fターム (39件)：

2G051AA34 , 2G051AA90 , 2G051AB20 , 2G051BA00 , 2G051CA03 , 2G051CA04 , 2G051EA08 , 2G051EA11 , 2G051EA14 , 2G051EA20 , 2G051EB01 , 2G051EB02 , 2G051EC03 , 2G051EC07 , 2G051ED01 , 2G051ED03 , 2G051ED07 , 2G051ED14 , 2G051ED22 , 2G051FA10 , 3E041AA02 , 3E041BA13 , 3E041BB02 , 3E041BC06 , 3E041CA01 , 3E041CB02 , 3E041EA03 , 5B057AA11 , 5B057BA13 , 5B057CA19 , 5B057CB19 , 5B057CC04 , 5B057CE06 , 5B057CH09 , 5B057DA03 , 5B057DA08 , 5B057DA16 , 5B057DC17 , 5B057DC34

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平4-113491
特開平2-163879
特開昭55-074667

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審査官引用 (5件)

特開平4-113491
特開平2-163879
特開昭55-074667

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