特許

J-GLOBAL ID：200903033751682795

米粒検査装置

発明者： 藤原 憲明 ,  格内 敏
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 成示 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-316343
公開番号（公開出願番号）：特開平10-160676
出願日： 1996年11月27日
公開日（公表日）： 1998年06月19日
要約：

【要約】【課題】 米粒の種類を細かく分類することのできる米粒検査装置を提供する。【解決手段】 本発明の米粒検査装置は、米粒を載置する米粒載置板5と、米粒載置板の一面に対向配設した透過光照射部1aと、米粒載置板の他の面に対向配設し、透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像する透過光撮像部1bと、透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の複数領域内の各平均輝度を求める多箇所平均輝度算出部1dと、多箇所平均輝度算出部の出力する複数の平均輝度のばらつきによって部分着色粒か否かを判別する部分着色粒判別部6aとを有して構成してある。

請求項（抜粋）：

米粒を載置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向配設した透過光照射部と、米粒載置板の他の面に対向配設し、透過光検査領域内の米粒の透過光を撮像する透過光撮像部と、透過光撮像部の撮像した撮像画像内の米粒を表す画素の塊内の長手方向の複数領域内の各平均輝度を求める多箇所平均輝度算出部と、多箇所平均輝度算出部の出力する複数の平均輝度のばらつきによって部分着色粒か否かを判別する部分着色粒判別部とを有する米粒検査装置。