特許
J-GLOBAL ID:200903033756274032

電子レベルと電子レベル用標尺

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 和泉 雄一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-155982
公開番号(公開出願番号):特開平5-322562
出願日: 1992年05月23日
公開日(公表日): 1993年12月07日
要約:
【要約】[目的] 本発明は電子レベルと電子レベル用標尺に係わり、特に、電子レベルが、電子レベル用標尺に形成された距離測定用パターンから距離を演算し、この演算距離に基づき、電子レベル用標尺に形成されたランダムなパターンである近距離測定用パターン及び遠距離測定用パターンの何れかを選択することにより、高低差を算出する電子レベルを提供することを目的とする。[構成] 本発明は対物レンズ部が、近距離測定用パターンと、遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を形成し、エリアセンサ部が、対物レンズ部によって形成された近距離測定用パターンと、遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変換し、距離算出部が距離測定用パターンの所定間隔を検出し、この検出値から、電子レベルと電子レベル用標尺との距離を演算する。更に高低差算出部が近距離の場合には、近距離測定用パターンに対応する電気信号から高低差を求め、また遠距離の場合には、遠距離測定用パターンに対応する電気信号から高低差を求める様になっている。
請求項(抜粋):
測定を行う際に鉛直方向に配置され、ランダムなパターンである近距離測定用パターンを形成した近距離測定用パターン部と、この近距離測定用パターンよりも大きなピッチの遠距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パターン部と、前記近距離測定用パターン部及び前記遠距離測定用パターン部を挟み、そのパターン方向と略直交する方向に、所定の間隔で形成される距離測定用パターンを形成した距離測定用パターン部とからなる電子レベル用標尺を使用して測定を行う電子レベルであって、前記近距離測定用パターンと、前記遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を形成するための対物レンズ部と、この対物レンズ部によって形成された前記近距離測定用パターンと、前記遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変換するためのエリアセンサ部と、このエリアセンサ部から得られた電気信号の内、前記距離測定用パターンに対応する電気信号から該距離測定用パターンの所定間隔を検出し、この検出値から、前記電子レベルと前記電子レベル用標尺との距離を演算するための距離算出部と、この距離算出部により演算された演算距離が所定距離以下である場合には、前記エリアセンサ部から得られた電気信号の内、前記近距離測定用パターンに対応する電気信号から高低差を求め、前記距離算出部により演算された演算距離が所定距離を越える場合には、前記エリアセンサ部から得られた電気信号の内、前記遠距離測定用パターンに対応する電気信号から高低差を求めるための高低差算出部とから構成されている電子レベル。

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