特許
J-GLOBAL ID：200903033760763234
高分子材料の平均ミクロボイドサイズ推定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢葺 知之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-125241
公開番号（公開出願番号）：特開2002-318211
出願日： 2001年04月24日
公開日（公表日）： 2002年10月31日
要約：
【要約】【課題】 高分子材料において、ガス透過や水の透過等を支配する自由体積を形成するミクロボイドの平均サイズを簡便かつ定量性高く評価する推定方法を提供すること。【解決手段】 高分子にXeガスを入れて、Xe核の核磁気共鳴スペクトルを測定し、得られた化学シフト値から、既知多孔質材料でのXeの化学シフトと平均気孔径の関係を利用して、高分子においてガス透過や水の透過等を支配する自由体積を形成するミクロボイドの平均サイズを簡便に推定する。
請求項（抜粋）：
高分子材料にXeガスを入れて、Xe核の核磁気共鳴スペクトルを測定し、得られた化学シフト値から、既知多孔質材料でのXeの化学シフトと平均気孔径の関係を利用して、該高分子材料のミクロボイドの平均サイズを簡便に推定することを特徴とする高分子材料の平均ミクロボイドサイズ推定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 24/00 D
, G01N 24/02 530 K
